WBE-KSH1000 / Câmara de teste de mudança rápida de temperatura

A peça de teste pode ser submetida a testes de estresse de temperatura (ESS), triagem de temperatura e umidade, testes de confiabilidade, etc. As taxas de rampa de temperatura comumente usadas são 5 ° C / min, 10 ° C / min, 15 ° C / min, 20 ° C / min e 25 ° C / min.

Áreas de aplicação:

Chips semicondutores, instituições de pesquisa científica, inspeção de qualidade, novas energias, comunicações optoeletrônicas, indústria aeroespacial e militar, indústria automobilística, display LCD, indústrias médicas e outras indústrias de tecnologia.

Padrões de teste:

GB/T 2423.1 Método de Teste de Baixa Temperatura, GJB 150.3 Método de Teste de Alta Temperatura, GB/T 2423.2 Método de Teste de Alta Temperatura, GJB 150.4 Teste de Baixa Temperatura, GB/T2423.34 Método de Teste de Ciclo de Umidade, GJB 150.9 Método de Teste de Umidade, Método de Teste de Temperatura e Umidade IEC60068-2, Método de Teste de Umidade MIL-STD-202G-103B

Características do produto:

1. O produto atende aos requisitos de rampa de temperatura linear e não linear.
2. Atende aos requisitos de taxa de rampa de temperatura de 5 °C / min a 30 °C / min.
3. Os recursos opcionais incluem nitrogênio líquido, calor úmido e anticondensação.
4. Utilizando tecnologia de válvula de expansão eletrônica e um sistema de controle inovador, o produto atinge economia de energia superior a 45%.