Adequado para testes de triagem de estresse ambiental (ESS) de produtos eletrônicos e elétricos, bem como detecção de estresse de temperatura de peças de teste sob mudanças rápidas ou graduais de temperatura, triagem de temperatura e umidade, teste de confiabilidade, teste de desempenho, teste de intemperismo e armazenamento em alta e baixa temperatura. As taxas de rampa de temperatura comuns incluem 5 ° C / min, 10 ° C / min, 15 ° C / min, 20 ° C / min e 25 ° C / min.
Áreas de aplicação:
Chips semicondutores, instituições de pesquisa científica, inspeção de qualidade, novas energias, comunicações optoeletrônicas, indústria aeroespacial e militar, indústria automobilística, display LCD, indústrias médicas e outras indústrias de tecnologia.
Padrões de teste:
GB/T 2423.1 Método de Teste de Baixa Temperatura, GJB 150.3 Método de Teste de Alta Temperatura, GB/T 2423.2 Método de Teste de Alta Temperatura, GJB 150.4 Teste de Baixa Temperatura, GB/T2423.34 Método de Teste de Ciclo de Umidade, GJB 150.9 Método de Teste de Umidade, IEC60068-2 Método de Teste de Temperatura e Umidade, Teste de Umidade MIL-STD-202G-103B
Características do produto:
1. O produto atende aos requisitos de controle de temperatura linear e não linear.
2. Atende a taxas de rampa de temperatura de 5 °C a 30 °C / min.
3. Os recursos opcionais incluem nitrogênio líquido, calor úmido e anticondensação.
4. Utilizando tecnologia de válvula de expansão eletrônica e um sistema de controle inovador, o produto oferece economia de energia superior a 30%.
