É usado para testar o desempenho de vários produtos em resistência ao calor, resistência ao frio. Usado principalmente em chips semicondutores, instituições de pesquisa científica, inspeção de qualidade, novas energias, comunicações optoeletrônicas, indústria militar aeroespacial, indústria automobilística, display LCD, indústrias médicas e outras indústrias de alta tecnologia。
É usado para testar o desempenho de vários produtos em resistência ao calor, resistência ao frio. Usado principalmente em chips semicondutores, instituições de pesquisa científica, inspeção de qualidade, novas energias, comunicações optoeletrônicas, indústria militar aeroespacial, indústria automobilística, display LCD, indústrias médicas e outras indústrias de alta tecnologia。
Critério de teste
1. B / T 2423.1 Método de teste de baixa temperatura
2. GJB 150.3 teste de alta temperatura
3. Método de teste de alta temperatura GB / T 2423.2
4. GJB 150.4 teste de baixa temperatura
